Translation for "free-field" to russian

Free-field

• в свободном поле

Translation examples

в свободном поле

The reference direction for free-field conditions (see IEC 61672-1:2002) shall be horizontal and directed perpendicularly towards the path of the moped line CC'.
Исходная ось в условиях свободного поля (см. IEC 61672-1:2002) должна быть горизонтальной и перпендикулярной линии СС' мопеда.

The reference direction for free-field conditions (see IEC 61672-1:2002) shall be horizontal and directed perpendicularly towards the path of the vehicle line CC'.
Исходная ось в условиях свободного поля (см. IEC 61672-1:2002) должна быть горизонтальной и перпендикулярной линии CC' транспортного средства.

If tests are made using the methods described in Annex 9, the immunity test levels shall be 60 volts/m for the 150 mm stripline testing method, 15 volts/m for the 800 mm stripline testing method, 75 volts/m for the Transverse Electromagnetic Mode (TEM) cell testing method, 60 mA for the bulk current injection (BCI) testing method and 30 volts/m for the free field testing method in over 90 per cent of the 20 to 2,000 MHz frequency band, and to a minimum of 50 volts/m for the 150 mm stripline testing method, 12.5 volts/m for the 800 mm stripline testing method, 62.5 volts/m, for the TEM cell testing method, 50 mA for the bulk current injection (BCI) testing method and 25 volts/m for the free field testing method over the whole 20 to 2,000 MHz frequency band.
6.7.2.1 Если испытания проводятся в соответствии с методами, описанными в приложении 9, то испытательные уровни помехоустойчивости должны составлять 60 вольт/м для метода испытания в 150-миллиметровой полосковой системе, 15 вольт/м - для метода испытания в 800миллиметровой полосковой системе, 75 вольт/м - для метода испытания в камере ПЭК, 60 мА - для метода испытания путем непосредственной инжекции тока (НИТ) и 30 вольт/м - для метода испытания в условиях свободного поля в пределах 90% полосы частот 20-2 000 МГц и не менее 50 вольт/м - для метода испытания в 150миллиметровой полосковой системе, 12,5 вольт/м - для метода испытания в 800-миллиметровой полосковой системе, 62,5 вольт/м - для метода испытания в камере ПЭК, 50 мА - для метода испытания путем непосредственной инжекции тока (НИТ) и 25 вольт/м - для метода испытания в условиях свободного поля в пределах всей полосы частот 20-2 000 МГц.

If tests are made using the methods described in Annex 9, the immunity test levels shall be 60 volts/m root-mean-square (rms) for the 150 mm stripline testing method, 15 volts/m rms for the 800 mm stripline testing method, 75 volts/m rms for the Transverse Electromagnetic Mode (TEM) cell testing method, 60 mA rms for the bulk current injection (BCI) testing method and 30 volts/m rms for the free field testing method in over 90 per cent of the 20 to 2,000 MHz frequency band, and to a minimum of 50 volts/m rms for the 150 mm stripline testing method, 12.5 volts/m rms for the 800 mm stripline testing method, 62.5 volts/m rms, for the TEM cell testing method, 50 mA rms for the bulk current injection (BCI) testing method and 25 volts/m rms for the free field testing method over the whole 20 to 2,000 MHz frequency band.
6.7.2.1 Если испытания проводят с помощью методов, описанных в приложении 9, то испытательные уровни помехоустойчивости должны иметь среднеквадратичное значение, составляющее 60 вольт/м для метода испытания в 150-миллиметровой полосковой системе, 15 вольт/м − для метода испытания в 800-миллиметровой полосковой системе, 75 вольт/м − для метода испытания в камере поперечного электромагнитного колебания (ПЭК), 60 мА − для метода испытания путем непосредственной инжекции тока (НИТ) и 30 вольт/м − для метода испытания в условиях свободного поля в пределах 90% полосы частот 20−2 000 МГц, и не менее 50 вольт/м − для метода испытания в 150-миллиметровой полосковой системе, 12,5 вольт/м − для метода испытания в 800миллиметровой полосковой системе, 62,5 вольт/м − для метода испытания в камере ПЭК, 50 мА − для метода испытания путем непосредственной инжекции тока (НИТ) и 25 вольт/м − для метода испытания в условиях свободного поля в пределах всей полосы частот 20−2 000 МГц.