Käännösesimerkit
Seostusaineen profilointi sekundääri-ionimassaspektrometrian (SIMS) ja leviämisvastuksen profiloinnin (SRP) avulla
Dopant profiling by secondary ion mass spectrometry (SIMS) and spreading resistance profiling (SRP)
SGS:n valmistuksen analysointipalvelu tarjoaa perusteellisen arvioinnin laitteestasi, sen kokoonpanon laadusta ja kaikkien rakenteiden kriittisistä ulottuvuuksista aivan materiaalien peruskoostumukseen ja seostusaineen leviämiseen asti.
At SGS our construction analysis service offers a thorough evaluation of your device, from the quality of its assembly, the critical dimensions of all structures, right down to material elemental composition and the dopant distribution.
How many English words do you know?
Test your English vocabulary size, and measure how many words you know.
Online Test